HTRB Функция высокотемпературной системы тестирования обратного смещения
1. Загрузка и импорт базы данных, автоматическое завершение экспериментального процесса, удобное для работы и использования;
2. Стареющий источник питания тестируемого устройства использует унифицированный источник питания и программируемый метод управления;
3. Мониторинг в реальном времени тока утечки IR каждого устройства, способный выводить отчеты об испытаниях и отображать полные кривые изменений;
4. Модуль поддерживает одновременное включение и мониторинг верхнего и нижнего мостов;
5. Для продуктов SiC минимальный сбор HTGB может достигать 0,1 нА.
|
Высокотемпературная испытательная система обратного смещения |
|||
|
Модель продукта |
ГК-HTXB-C16 |
ГК-HTXB-C16FS |
ГК-HTXB-H8P |
|
Область применения |
Система может проводить испытания HTRB различных форм корпусов из материалов Si/SiC/GaN, таких как устройства IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR. |
||
|
Максимальная температура испытания |
175 градусов/200 градусов/300 градусов |
||
|
Тестовая мощность |
16(канал)*80(станция)=1280 |
16(канал)*40(станция)=640 |
8(канал)*10(станция)=80 |
|
Основная функция |
1. Установка верхнего предела тока утечки, верхнего предела испытательного напряжения и верхнего предела температуры; Установка времени выдержки; 2. Мониторинг в режиме реального времени и отображение записи-во времени, записи-в процессе, количества вышедших из строя станций и т. д. для каждого канала; 3. Отображение в реальном времени и запись записи-в параметрах (ИК, VR, температура на станцию); 4. Оценка в реальном времени превышения лимита, сигнализация о превышении лимита и запись станции и времени превышения; 5. Отображение в реальном времени максимального значения ИК для каждой станции и отображение времени, когда было создано максимальное значение ИК; 6. Параметры записи- легко вызываются, могут генерировать отчеты об испытаниях и рисовать кривые изменения тока утечки. |
||
|
Расширить функциональность |
①Функция быстрого-отключения для каждой станции (после превышения предела отключается напряжение на этой станции на 200 мс). ②NTC-монитор |
||
|
Внешние размеры |
Ш1360ммхВ1820ммхГ1320мм |
||
|
Масса |
около 500 кг |
около 500 кг |
около 500 кг |
горячая этикетка : Высокотемпературная испытательная система обратного смещения htrb, Китайская фабрика высокотемпературной испытательной системы обратного смещения htrb, Точность теста чипа, Среда тестирования чипов, Устранение неполадок в чипе, Система тестирования IC, Система тестирования полупроводника, Оборудование для полупроводникового испытания
